Elastic Constant Measurement in Supported W/Cu Multilayer...

Materials Science Forum 2002 Vol. 404-407

Elastic Constant Measurement in Supported W/Cu Multilayer Thin Films by X-Ray Diffraction

Villain, Pascale, Goudeau, Philippe, Renault, Pierre Olivier, Badawi, K.F.
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Volume:
404-407
Année:
2002
Journal:
Materials Science Forum
DOI:
10.4028/www.scientific.net/msf.404-407.791
Fichier:
PDF, 389 KB
2002
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