Performance of random-walk capacitance extractors for IC interconnects: A numerical study
Y.L. Le Coz, H.J. Greub, R.B. IversonVolume:
42
Année:
1998
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/s0038-1101(97)00283-9
Fichier:
PDF, 366 KB
english, 1998