Reliability of ultra-thin film deep submicron SIMOX...

Solid-State Electronics 2002 Vol. 46; Iss. 3

Reliability of ultra-thin film deep submicron SIMOX nMOSFETs

O. Potavin, S. Haendler, J. Jomaah, F. Balestra, C. Raynaud
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
46
Année:
2002
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/s0038-1101(01)00110-1
Fichier:
PDF, 318 KB
english, 2002
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué