Ionising radiation effects on MOSFET drain current

Microelectronics Reliability 2003 Vol. 43; Iss. 8

Ionising radiation effects on MOSFET drain current

S. Cimino, A. Cester, A. Paccagnella, G. Ghidini
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Volume:
43
Année:
2003
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/s0026-2714(03)00179-3
Fichier:
PDF, 151 KB
english, 2003
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