Evolution of LF noise in Power PHEMT's submitted to RF and...

Microelectronics Reliability 2001 Vol. 41; Iss. 9-10

Evolution of LF noise in Power PHEMT's submitted to RF and DC Step Stresses

B. Lambert, N. Malbert, N. Labat, F. Verdier, A. Touboul, P. Huguet, R. Bonnet, G. Pataut
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Volume:
41
Année:
2001
Pages:
6
DOI:
10.1016/s0026-2714(01)00186-x
Fichier:
PDF, 367 KB
2001
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