Thermal behavior of He-irradiation-induced defects in...

Thermal behavior of He-irradiation-induced defects in silicon

Yoshitaka Nakano, Masayasu Ishiko, Hiroshi Tadano, Uwe Myler, Peter Simpson
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Volume:
210
Année:
2000
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/s0022-0248(99)00651-x
Fichier:
PDF, 203 KB
english, 2000
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