Grown-in microdefects, residual vacancies and oxygen...

Grown-in microdefects, residual vacancies and oxygen precipitation bands in Czochralski silicon

V.V. Voronkov, R. Falster
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Volume:
204
Année:
1999
Langue:
english
Pages:
13
DOI:
10.1016/s0022-0248(99)00202-x
Fichier:
PDF, 257 KB
english, 1999
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