Defect analysis in Czochralski grown Bi12SiO20 crystals

Journal of Crystal Growth 2001 Vol. 229; Iss. 1-4

Defect analysis in Czochralski grown Bi12SiO20 crystals

S Kumaragurubaran, S.M Babu, K Kitamura, S Takegawa, C Subramanian
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Volume:
229
Année:
2001
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/s0022-0248(01)01129-0
Fichier:
PDF, 159 KB
english, 2001
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