[IEEE 2006 International Electron Devices Meeting - San...

[IEEE 2006 International Electron Devices Meeting - San Francisco, CA, USA (2006.12.11-2006.12.13)] 2006 International Electron Devices Meeting - Modeling Study of InSb Thin Film For Advanced III-V MOSFET Applications

Zhu, Z. G., Low, Tony, Li, M. F., Fan, W. J., Bai, P., Kwong, D. L., Samudra, G.

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Année:

2006

Langue:

english

DOI:

10.1109/iedm.2006.346736

Fichier:

PDF, 367 KB

english, 2006

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