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[IEEE 2012 IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) - Xian, China (2012.10.29-2012.11.1)] 2012 IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology - Off-state leakage current of nano-scaled MOSFETs with high-k gate dielectric

Liu, Hong-Xia, Ma, Fei, Fan, Ji-Bin, Fan, Xiao-Jiao, Fei, Chen-Xi, Luo, Yi, Liu, Chen
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Année:
2012
Langue:
english
DOI:
10.1109/icsict.2012.6467944
Fichier:
PDF, 262 KB
english, 2012
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