Enhanced quantification for 3D SEM–EDS: Using the full set...

Ultramicroscopy 2015 / 01 Vol. 148

Enhanced quantification for 3D SEM–EDS: Using the full set of available X-ray lines

Burdet, Pierre, Croxall, S.A., Midgley, P.A.
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Volume:
148
Langue:
english
Journal:
Ultramicroscopy
DOI:
10.1016/j.ultramic.2014.10.010
Date:
January, 2015
Fichier:
PDF, 6.10 MB
english, 2015
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