In situ spectroscopic ellipsometric study of porous alumina...

Electrochimica Acta 2002 Vol. 47; Iss. 11

In situ spectroscopic ellipsometric study of porous alumina film dissolution

N Stein, M Rommelfangen, V Hody, L Johann, J.M Lecuire
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Volume:
47
Année:
2002
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1016/s0013-4686(02)00015-4
Fichier:
PDF, 241 KB
english, 2002
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