SPIE Proceedings [SPIE Symposium on Design, Test,...

  • Main
  • SPIE Proceedings [SPIE Symposium on...

SPIE Proceedings [SPIE Symposium on Design, Test, Integration, and Packaging of MEMS/MOEMS - Paris, France (Tuesday 9 May 2000)] Design, Test, Integration, and Packaging of MEMS/MOEMS - Technical comparison of micro-electrodischarge machining, microdrilling, and copper vapor laser machining for the fabrication of ink jet nozzles

Allen, David M., Almond, Heather J. A., Logan, Peter, Courtois, Bernard, Crary, Selden B., Gabriel, Kaigham J., Karam, Jean Michel, Markus, Karen W., Tay, Andrew A. O.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
4019
Année:
2000
Langue:
english
DOI:
10.1117/12.382322
Fichier:
PDF, 2.64 MB
english, 2000
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué