Fracture patterns in thin films and multilayers

MRS Proceedings 2003 / 1 Vol. 795

Fracture patterns in thin films and multilayers

Volinsky, Alex A., Meyer, Dirk C., Leisegang, Tilmann, Paufler, Peter
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Volume:
795
Langue:
english
Journal:
MRS Proceedings
DOI:
10.1557/PROC-795-U3.8
Date:
January, 2003
Fichier:
PDF, 1.37 MB
english, 2003
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