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SPIE Proceedings [SPIE SPIE Optical Metrology 2013 - Munich, Germany (Monday 13 May 2013)] Videometrics, Range Imaging, and Applications XII; and Automated Visual Inspection - A background light resistant TOF range finder with integrated PIN photodiode in 0.35μm CMOS

Davidovic, Milos, Remondino, Fabio, Shortis, Mark R., Seiter, Johannes, Hofbauer, Michael, Beyerer, Jürgen, Puente León, Fernando, Gaberl, Wolfgang, Zimmermann, Horst
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Volume:
8791
Année:
2013
Langue:
english
DOI:
10.1117/12.2021021
Fichier:
PDF, 696 KB
english, 2013
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