[ECS 24th Symposium on Microelectronics Technology and...

  • Main
  • [ECS 24th Symposium on Microelectronics...

[ECS 24th Symposium on Microelectronics Technology and Devices - Natal, Brazil (August 31 - September 3, 2009)] ECS Transactions - Impact of Confinement and Stress on the Subband Parameters in Ultra-Thin Silicon Films

Sverdlov, Viktor A., Baumgartner, Oskar, Windbacher, Thomas, Schanovsky, Franz, Selberherr, Siegfried
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Année:
2009
Langue:
english
DOI:
10.1149/1.3183743
Fichier:
PDF, 356 KB
english, 2009
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué