Capacitance–voltage characterization of silicon oxide and...

Capacitance–voltage characterization of silicon oxide and silicon nitride coatings as passivation layers for crystalline silicon solar cells and investigation of their stability against x-radiation

Jan Martin Kopfer, Sinje Keipert-Colberg, Dietmar Borchert
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
519
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/j.tsf.2011.04.107
Fichier:
PDF, 769 KB
english, 2011
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué