Degradation of silicone in white LEDs during device...

Microelectronics Reliability 2015 / 04 Vol. 55; Iss. 5

Degradation of silicone in white LEDs during device operation: a finite element approach to product reliability prediction

Watzke, S., Altieri-Weimar, P.
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Volume:
55
Langue:
english
Journal:
Microelectronics Reliability
DOI:
10.1016/j.microrel.2015.02.008
Date:
April, 2015
Fichier:
PDF, 1.01 MB
english, 2015
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