STM and XPS characterisation of vacuum annealed...

Surface Science 2007 Vol. 601; Iss. 21

STM and XPS characterisation of vacuum annealed nanocrystalline WO3 films

T.G.G. Maffeis, D. Yung, L. LePennec, M.W. Penny, R.J. Cobley, E. Comini, G. Sberveglieri, S.P. Wilks
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Volume:
601
Année:
2007
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/j.susc.2007.08.009
Fichier:
PDF, 481 KB
english, 2007
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