The influence of visible light on the gate bias instability...

Solid-State Electronics 2011 Vol. 62; Iss. 1

The influence of visible light on the gate bias instability of In–Ga–Zn–O thin film transistors

Sangwook Kim, Sunil Kim, Changjung Kim, JaeChul Park, Ihun Song, Sanghun Jeon, Seung-Eon Ahn, Jin-Seong Park, Jae Kyeong Jeong
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Volume:
62
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/j.sse.2011.04.014
Fichier:
PDF, 758 KB
english, 2011
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