TEM and SEM-CL Studies of SiC Nanowires

Materials Science Forum 2010 / 4 Vol. 645-648

TEM and SEM-CL Studies of SiC Nanowires

Rossi, Francesca, Fabbri, Filippo, Attolini, Giovanni, Bosi, Matteo, Watts, Bernard Enrico, Salviati, Giancarlo
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Volume:
645-648
Langue:
english
Journal:
Materials Science Forum
DOI:
10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.387
Date:
April, 2010
Fichier:
PDF, 5.40 MB
english, 2010
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