Tin Related Defect in Electron Irradiated n-Type Silicon...

Materials Science Forum 1989 Vol. 38-41

Tin Related Defect in Electron Irradiated n-Type Silicon Studied by DLTS

Nielsen, Jacob, Nielsen, K. Bonde, Larsen, Arne Nylandsted
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
38-41
Année:
1989
Journal:
Materials Science Forum
DOI:
10.4028/www.scientific.net/MSF.38-41.439
Fichier:
PDF, 271 KB
1989
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué