Investigation of Near-IR Emission from Hydrogenated...

MRS Proceedings 2010 / 1 Vol. 1245

Investigation of Near-IR Emission from Hydrogenated Nanocrystalline Silicon – The Oxygen Defect Band

Fields, Jeremy David, Taylor, Craig, Bobela, David, Yan, Baojie, Yue, Guozhen
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Volume:
1245
Langue:
english
Journal:
MRS Proceedings
DOI:
10.1557/PROC-1245-A13-01
Date:
January, 2010
Fichier:
PDF, 734 KB
english, 2010
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