Diagnostics of Radiation Defects in Silicon Carbide

Girka, A.I., Mokrushin, A.D., Mokhov, E.N., Svirida, S.V., Shishkin, A.V.

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Volume:

105-110

Année:

1992

Journal:

Materials Science Forum

DOI:

10.4028/www.scientific.net/MSF.105-110.1021

Fichier:

PDF, 324 KB

1992

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