Characterization of atom and ion-induced “internal”...

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 2011 Vol. 269; Iss. 11

Characterization of atom and ion-induced “internal” electron emission by thin film tunnel junctions

Detlef Diesing, Domocos Kovacs, Kevin Stella, Christian Heuser
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Volume:
269
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/j.nimb.2010.12.034
Fichier:
PDF, 609 KB
english, 2011
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