Interaction of electrical active intrinsic defects in...

Materials Science in Semiconductor Processing 2003 Vol. 6; Iss. 5-6

Interaction of electrical active intrinsic defects in Sn-doping Bi2Te3

M.K. Zhitinskaya, S.A. Nemov, T.E. Svechnikova
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Volume:
6
Année:
2003
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.mssp.2003.07.019
Fichier:
PDF, 190 KB
english, 2003
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