Circuit level prediction of device performance degradation...

Circuit level prediction of device performance degradation due to negative bias temperature stress

Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Kazufumi Watanabe, Michihiko Mifuji, Takahisa Yamaha, Shigetoshi Sugawa, Tadahiro Ohmi
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Volume:
47
Année:
2007
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1016/j.microrel.2006.06.013
Fichier:
PDF, 382 KB
english, 2007
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