EBSD measurements of elastic strain fields in a...

Microelectronics Reliability 2006 Vol. 46; Iss. 1

EBSD measurements of elastic strain fields in a GaN/sapphire structure

J.F. Luo, Y. Ji, T.X. Zhong, Y.Q. Zhang, J.Z. Wang, J.P. Liu, N.H. Niu, J. Han, X. Guo, G.D. Shen
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
46
Année:
2006
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/j.microrel.2005.05.012
Fichier:
PDF, 210 KB
english, 2006
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué