Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs

Microelectronics Reliability 2005 Vol. 45; Iss. 1

Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs

N. Stojadinovic, I. Manic, V. Davidovic, D. Dankovic, S. Djoric-Veljkovic, S. Golubovic, S. Dimitrijev
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
45
Année:
2005
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/j.microrel.2004.09.002
Fichier:
PDF, 443 KB
english, 2005
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué