Study on the frequency dependence of electrical and...

Microelectronic Engineering 2008 Vol. 85; Iss. 9

Study on the frequency dependence of electrical and dielectric characteristics of Au/SnO2/n-Si (MIS) structures

A. Tataroğlu, Ş. Altındal
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Volume:
85
Année:
2008
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/j.mee.2008.05.025
Fichier:
PDF, 216 KB
english, 2008
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