THE ATOMIC STRUCTURE OF Si(111)-R30°-Ga DETERMINED BY...

Surface Review and Letters 2000 / 06 Vol. 7; Iss. 3

THE ATOMIC STRUCTURE OF Si(111)-R30°-Ga DETERMINED BY AUTOMATED TENSOR LEED

CHEN, WENHUA, WU, HUASHENG, HO, WING KIN, DENG, B. C., XU, GENG, TONG, S. Y.
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Volume:
7
Langue:
english
Journal:
Surface Review and Letters
DOI:
10.1142/S0218625X0000035X
Date:
June, 2000
Fichier:
PDF, 182 KB
english, 2000
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