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TEM based high resolution and low-dose scanning electron...

Micron 2015 / 04 Vol. 71

TEM based high resolution and low-dose scanning electron nanodiffraction technique for nanostructure imaging and analysis

Kim, Kyou-Hyun, Xing, Hui, Zuo, Jian-Min, Zhang, Peng, Wang, Haifeng
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Volume:
71
Langue:
english
Journal:
Micron
DOI:
10.1016/j.micron.2015.01.002
Date:
April, 2015
Fichier:
PDF, 1.87 MB
english, 2015
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