Simulation of the electric field strength in the vicinity...

IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 2015 / 2 Vol. 22; Iss. 1

Simulation of the electric field strength in the vicinity of metallization edges on dielectric substrates

Bayer, C., Baer, E., Waltrich, U., Malipaard, D., Schletz, A.
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Volume:
22
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
DOI:
10.1109/TDEI.2014.004285
Date:
February, 2015
Fichier:
PDF, 318 KB
english, 2015
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