Tolerance Against Terrestrial Neutron-Induced Single-Event...

IEEE Transactions on Nuclear Science 2014 / 12 Vol. 61; Iss. 6

Tolerance Against Terrestrial Neutron-Induced Single-Event Burnout in SiC MOSFETs

Asai, Hiroaki, Nashiyama, Isamu, Sugimoto, Kenji, Shiba, Kensuke, Sakaide, Yasuo, Ishimaru, Yasuo, Okazaki, Yuji, Noguchi, Kenta, Morimura, Tadaaki
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Volume:
61
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/TNS.2014.2371892
Date:
December, 2014
Fichier:
PDF, 1.05 MB
english, 2014
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