Set statistics in conductive bridge random access memory...

Applied Physics Letters 2014 / 11 Vol. 105; Iss. 19

Set statistics in conductive bridge random access memory device with Cu/HfO2/Pt structure

Zhang, Meiyun, Long, Shibing, Wang, Guoming, Xu, Xiaoxin, Li, Yang, Liu, Qi, Lv, Hangbing, Lian, Xiaojuan, Miranda, Enrique, Suñé, Jordi, Liu, Ming
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Volume:
105
Langue:
english
Journal:
Applied Physics Letters
DOI:
10.1063/1.4901530
Date:
November, 2014
Fichier:
PDF, 1.31 MB
english, 2014
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