Spacing roughness parameters study on the EDM of silicon...

Journal of Materials Processing Technology 2005 Vol. 164-165; Iss. none

Spacing roughness parameters study on the EDM of silicon carbide

I. Puertas, C.J. Luis, G. Villa
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Volume:
164-165
Année:
2005
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1016/j.jmatprotec.2005.01.004
Fichier:
PDF, 219 KB
english, 2005
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