[IEEE 2014 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in...

  • Main
  • [IEEE 2014 IEEE Radiation Effects Data...

[IEEE 2014 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with NSREC 2014) - Paris, France (2014.7.14-2014.7.18)] 2014 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - Neutron Induced Single Event Upset (SEU) Testing of Static Random Access Memory (SRAM) Devices

Tostanoski, Michael J., Deaton, Terrence F., Strayer, Roy E., Goldflam, Rudolf, Fullem, Travis Z.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Année:
2014
Langue:
english
DOI:
10.1109/redw.2014.7004579
Fichier:
PDF, 979 KB
english, 2014
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué