Degradation mechanisms of SrBi 2...

Integrated Ferroelectrics 2000 / 11 Vol. 31; Iss. 1-4

Degradation mechanisms of SrBi 2 Ta 2 O 9 ferroelectric thin film capacitors during forming gas annealing

Hartner, Walter, Bosk, Peter, Schindler, Günther, Schroeder, Herbert, Waser, Rainer, Dehm, Christine, Mazuré, Carlos
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Volume:
31
Langue:
english
Journal:
Integrated Ferroelectrics
DOI:
10.1080/10584580008215667
Date:
November, 2000
Fichier:
PDF, 771 KB
english, 2000
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