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[IEEE International Electron Devices Meeting. IEDM Technical Digest - Washington, DC, USA (7-10 Dec. 1997)] International Electron Devices Meeting. IEDM Technical Digest - Advanced 0.5 μm FRAM device technology with full compatibility of half-micron CMOS logic device

Yamazaki, T., Inoue, K.-i., Miyazawa, H., Nakamura, M., Sashida, N., Satomi, R., Kerry, A., Katoh, Y., Noshiro, H., Takai, K., Shinohara, R., Ohno, C., Nakajima, T., Furumura, Y., Kawamura, S.
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Année:
1997
Langue:
english
DOI:
10.1109/iedm.1997.650459
Fichier:
PDF, 599 KB
english, 1997
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