Electrostatic Discharge Effects in Irradiated Fully...

IEEE Transactions on Nuclear Science 2007 / 12 Vol. 54; Iss. 6

Electrostatic Discharge Effects in Irradiated Fully Depleted SOI MOSFETs With Ultra-Thin Gate Oxide

Gerardin, Simone, Griffoni, Alessio, Tazzoli, Augusto, Cester, Andrea, Meneghesso, Gaudenzio, Paccagnella, Alessandro
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
54
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/tns.2007.910848
Date:
December, 2007
Fichier:
PDF, 356 KB
english, 2007
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué