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[IEEE [Reliability of Compound Semiconductors] ROCS Workshop, 2005. - Indian Wells, CA, USA (2005.10.30-2005.10.30)] [Reliability of Compound Semiconductors] ROCS Workshop, 2005. - Application of aluminium metallisation in ldmos RF power applications

van der Wel, P.J., van den Heuvel, R.A., Peuscher, H.J.F., Li, Y., Gommans, J.G., van Rijs, F., Bron, P., Theeuwen, S.J.C.H.
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Année:
2005
Langue:
english
DOI:
10.1109/rocs.2005.201561
Fichier:
PDF, 1.65 MB
english, 2005
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