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[IEEE 2010 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (2010 NSS/MIC) - Knoxville, TN (2010.10.30-2010.11.6)] IEEE Nuclear Science Symposuim & Medical Imaging Conference - Evaluation of the radiation tolerance of 65 nm CMOS devices for high-density front-end electronics

Gaioni, L, Manghisoni, M, Ratti, L, Re, V, Traversi, G
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Année:
2010
Langue:
english
DOI:
10.1109/nssmic.2010.5873829
Fichier:
PDF, 1.92 MB
english, 2010
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