Characterization of atomic force microscope tips by...

Applied Physics Letters 1993 Vol. 63; Iss. 15

Characterization of atomic force microscope tips by adhesion force measurements

Thundat, T., Zheng, X-Y., Chen, G. Y., Sharp, S. L., Warmack, R. J., Schowalter, L. J.
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Volume:
63
Année:
1993
Langue:
english
Journal:
Applied Physics Letters
DOI:
10.1063/1.110569
Fichier:
PDF, 805 KB
english, 1993
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