[IEEE 2010 20th International Conference on Pattern...

  • Main
  • [IEEE 2010 20th International...

[IEEE 2010 20th International Conference on Pattern Recognition (ICPR) - Istanbul, Turkey (2010.08.23-2010.08.26)] 2010 20th International Conference on Pattern Recognition - Scale Matching of 3D Point Clouds by Finding Keyscales with Spin Images

Tamaki, Toru, Tanigawa, Shunsuke, Ueno, Yuji, Raytchev, Bisser, Kaneda, Kazufumi
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Année:
2010
Langue:
english
DOI:
10.1109/icpr.2010.850
Fichier:
PDF, 777 KB
english, 2010
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué