Recombination via radiation-induced defects in field-effect...

Journal of Applied Physics 1994 Vol. 76; Iss. 10

Recombination via radiation-induced defects in field-effect transistor

Le Bras, Luc, Bendada, Matti, Mialhe, Pierre, Blampain, Eloi, Charles, Jean-Pierre
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Volume:
76
Année:
1994
Langue:
english
Journal:
Journal of Applied Physics
DOI:
10.1063/1.357073
Fichier:
PDF, 832 KB
english, 1994
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