Novel process for reliable ultrathin tunnel dielectrics

Applied Physics Letters 1994 Vol. 64; Iss. 16

Novel process for reliable ultrathin tunnel dielectrics

Hao, Ming-yin, Maiti, Bikas, Lee, Jack C.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
64
Année:
1994
Langue:
english
Journal:
Applied Physics Letters
DOI:
10.1063/1.111696
Fichier:
PDF, 472 KB
english, 1994
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué