The influence of process parameters on electromigration...

Journal of Applied Physics 2008 Vol. 104; Iss. 4

The influence of process parameters on electromigration lifetime statistics

Hauschildt, M., Gall, M., Justison, P., Hernandez, R., Ho, P. S.
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Volume:
104
Année:
2008
Langue:
english
Journal:
Journal of Applied Physics
DOI:
10.1063/1.2956827
Fichier:
PDF, 989 KB
english, 2008
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