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[IEEE 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) - Sevilla, Spain (2011.09.19-2011.09.23)] 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems - Evaluation on protective single event burnout test method for power DMOSFETs

Liu, Sandra, Marec, Ronan, Sherman, Phillip, Titus, Jeffrey L., Bezerra, Francoise, Ferlet-Cavrois, Veronique, Marin, Marc, Sukhaseum, Nicolas, Widmer, Fabien, Muschitiello, Michele, Gouyet, Lionel, E
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Année:
2011
Langue:
english
DOI:
10.1109/radecs.2011.6131364
Fichier:
PDF, 704 KB
english, 2011
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