Characterization of amorphous and crystalline silicon...

Journal of Applied Physics 2008 Vol. 104; Iss. 9

Characterization of amorphous and crystalline silicon nanoclusters in ultra thin silica layers

Thogersen, Annett, Mayandi, Jeyanthinath, Finstad, Terje G., Olsen, Arne, Christensen, Jens Sherman, Mitome, Masanori, Bando, Yoshio
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
104
Année:
2008
Langue:
english
Journal:
Journal of Applied Physics
DOI:
10.1063/1.3014195
Fichier:
PDF, 1.22 MB
english, 2008
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué