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[IEEE 2010 International Conference on Microelectronics (ICM) - Cairo, Egypt (2010.12.19-2010.12.22)] 2010 International Conference on Microelectronics - 3D/TSV enabling technologies for SOC/NOC: Modeling and design challenges

Salah, Khaled, El Rouby, Alaa, Ragai, Hani, Ismail, Yehea
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Année:
2010
Langue:
english
DOI:
10.1109/icm.2010.5696135
Fichier:
PDF, 833 KB
english, 2010
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